AI 晶片功耗飆升:Joinspire 聚礪新材料填孔銅膏突破新世代 HDI 互連瓶頸
隨著 AI 晶片功耗突破 2 kW,傳統 HDI PCB 塞孔材料正面臨嚴重的散熱與可靠性瓶頸。了解 Joinspire 聚礪新材料的 JL-CS-F01 填孔銅膏如何以超高導熱係數(124 W/m·K)、低體積電阻率與穩固可靠性化解此挑戰──經 12 次連續回流焊測試,零孔洞、零裂紋。
隨著新世代 AI 處理器問世,單顆晶片的功耗正以前所未有的速度攀升。NVIDIA 的 Rubin GPU 晶片將單晶片功耗推升至 2.3 kW,為 B200 晶片的 2.3 倍;而其未來的 Feynman GPU 架構,功耗預計將達到驚人的 4,400 W。
為因應這類極端功耗需求與高速資料傳輸速率,AI 硬體在 GPU OAM 加速卡與 UBB 基板上,仰賴超高密度互連(HDI)PCB,層數可達 20 至 30 層。

(圖 1:NVIDIA GB200 採用多層 HDI PCB)
高密度運算下的塞孔困境
儘管 HDI PCB 是現代 AI 運算的實體骨幹,但已逐漸逼近關鍵材料瓶頸。HDI PCB 高度仰賴複雜的微孔架構(通孔、盲孔與埋孔),然而傳統塞孔材料已難以跟上高功率需求:
- 傳統樹脂塞孔: 形同熱與電的阻絕層,嚴重限制垂直路徑上的散熱效率。
- 暫態液相燒結(TLPS): 雖然導電性較佳,但 TLPS 膏體在回流焊過程中,常因熱應力不匹配而出現孔洞與微裂紋,帶來顯著的可靠性風險。
在 AI 硬體每隔數月即迭代一次的產業節奏下,硬體工程師迫切需要一種兼具卓越導熱、導電性能與穩固可靠性的塞孔材料。
為解決此一挑戰,Joinspire 聚礪新材料推出了 JL-CS-F01 塞孔銅膏。目前正於國內領先 PCB 廠商進行驗證,這項突破性材料為新世代 HDI 設計提供了高可靠性的解決方案。

(圖 2:Joinspire 聚礪新材料 JL-CS-F01 塞孔銅膏之關鍵技術特性與優勢)
JL-CS-F01 的關鍵技術突破
1. 超低電阻率與卓越導熱性能
傳統樹脂塞孔如同一道熱阻障,而 Joinspire 聚礪新材料 JL-CS-F01 徹底顛覆了這個框架。它並非單純的樹脂改質產品,而是一款功能完整的導電膏:
- 體積電阻率(5–8 × 10⁻⁵ Ω·cm): 使電流能在多層基板間順暢流通,大幅降低線路損耗與發熱量。
- 導熱係數(124 W/m·K): 在高功率 AI 晶片正下方打造一條垂直導熱的「快速通道」,為加速卡設計工程師開啟全新的散熱設計維度。


2. 低溫快速固化與優異製程性
Joinspire 聚礪新材料 JL-CS-F01 提供極為寬廣的製程窗口:
- 快速固化(170 °C–180 °C,1 小時): 大幅提升生產效率,同時將對精密基板的熱應力降至最低。
- 精準 CTE 匹配: 透過控制體積收縮率,JL-CS-F01 可與 FR-4 及高頻疊層材料達成最佳化的熱膨脹係數(CTE)匹配。無論採用點膠或網版印刷方式施作,皆能確保填孔飽滿緊實,不塌陷、不產生孔洞。
3. 可靠性驗證:12 次回流焊循環,零孔洞零裂紋
材料性能不能僅止於實驗室條件,更須經得起極端操作熱循環的考驗。在模擬量產測試中,經過 12 次連續回流焊循環後,Joinspire 聚礪新材料 JL-CS-F01 表現如下:
- 0 孔洞
- 0 微裂紋
- 100% 結構完整性
這樣的熱穩定性,確保了內部互連結構在高負載 AI 伺服器運作常見的持續熱循環下依然穩固可靠。
4. 卓越製程彈性:固化後表面可焊接
為簡化後續生產流程,Joinspire 聚礪新材料 JL-CS-F01 固化後的表面支援直接焊接。此特性讓 PCB 佈局工程師在走線與組裝上獲得無與倫比的彈性──真正實現「填得密實、導得可靠、焊得順暢」的材料特性。
結語
AI 硬體效能的競賽,早已不侷限於晶片製程本身,更同樣仰賴底層基板材料的突破。
如果說高效能 GPU 是 AI 運算的「大腦」,HDI PCB 則構成了「神經網路」,那麼 Joinspire 聚礪新材料 JL-CS-F01 塞孔銅膏,正是串連這些節點的關鍵推手。透過解決高頻、高速與極端散熱的挑戰,Joinspire 聚礪新材料正為新世代高密度電子互連提供強大助力。